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是*適合Point Of Care Testing(POCT)的超小型**層析器。 OTSUKA大冢 醫用機器熒光**色譜儀 DiaScanα OTSUKA大冢 醫用機器熒光**色譜儀 DiaScanαOTSUKA大冢 醫用機器熒光**色譜儀 DiaScanα
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本裝置用于利用株式會社JIMRO的血細胞去除用凈化器“阿達柱”去除血液中的顆粒球及單核細胞，是為了在低流量進行血液的體外循環的專用血球細胞去除裝置. OTSUKA大冢 醫用機器血細胞**裝置 Adamonitor SC OTSUKA大冢 醫用機器血細胞**裝置 Adamonitor SCOTSUKA大冢 醫用機器血細胞**裝置 Adamonitor SC
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series600
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GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series
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FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統 OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700
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MR-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器 實現真正的黑屏！ 把黑色的差異數值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備 從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應 OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
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OTSUKA大冢-量子點評系統 量子點材料具有根據粒子直徑不同發光波長發生變化的特性。 在本系統中，在評價粒子直徑以及分散穩定性的同時，也可以對熒光特性進行評價。 OTSUKA大冢-量子點評系統OTSUKA大冢-量子點評系統OTSUKA大冢-量子點評系統
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OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。 1從粒子的取出到測量的系統化。 可以測量10μm的粒子。 支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
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QE-5000 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統 快速測量透過熒光的面內色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統 OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
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RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 對應微LED等微小樣品的配光測定系統RH50.。 與光學模擬軟件的聯合是可能的，可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50
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GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統 測量照明設備配光特性的裝置。 OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600
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GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800
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MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
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IL100 OTSUKA大冢-照度測量系統 從分光放射照度測定中高精度地測定照度。 ·從紫外到可見、紅外的廣泛測量波長范圍。 ·可以選擇高斜入射特性等用途的照度頭。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以測定。 ·專用軟件點亮電源也統一控制。 OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢 是對基本的照度測定進行極限探究的裝置
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GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UV
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GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UV0UV
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GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 紫OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UV
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GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510U
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GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500
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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV測定裝置 OTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UV
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HM/FM series OTSUKA大冢-全光束測量系統 OTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM series，支持符合要求的測定系統。
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GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series的裝置。
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RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 對應微LED等微小樣品的配光測定系統RH50.。 與光學模擬軟件的聯合是可能的，可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50
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SF-3Rθ OTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統 *多可以快速映射12inch晶片OTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統SF-3Rθ
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SF-3Rθ OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3Rθ
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SF-3AAF OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AAF
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SF-3AA OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統SF-3AA
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GS-300 OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統 搭載模式匹配功能，X-Y定位精度在2um以下的系統。OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統GS-300
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SF-3/200 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200
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SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300
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SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300
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SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BB
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AT-1500 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500
