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代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-6800 MCPD-9800 涂層測厚 在線測色儀膜厚在線測試陣列光譜儀在線分光測色儀 光譜分析系統(tǒng)
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Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型 該設(shè)備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個表面可以快速、高精度地測量。
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Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷售 該裝置可以測量薄膜的整個寬度和總長度，用于在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場。 通過將新開發(fā)的高精度薄膜厚度計算技術(shù)與專有光譜干涉方法相結(jié)合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內(nèi)測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
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Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設(shè)備 它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現(xiàn)高精度測量。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進行**反射率測量，可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
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塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統(tǒng)。 即時測量光譜，自由組裝測量光學(xué)系統(tǒng)和多種選項，可根據(jù)各種目的進行系統(tǒng)升級。 測量波長范圍有四種類型可供選擇。
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多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
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它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現(xiàn)高精度測量。
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特點 使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數(shù)是可能的。 可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進行各種分析。 系統(tǒng)將詢問您如何安排您的會議。 可選的桿單元支架可實現(xiàn)光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強度測量。
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使用動態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 相關(guān)計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
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特點 使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實系數(shù)。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 采用浸入式細胞光學(xué)系統(tǒng)，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。 相關(guān)計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
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散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量 評估亞微米至數(shù)百微米的結(jié)構(gòu) 使用專用電池測量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換 桌面類型，可安裝在實驗室中 ※不使用HDR功能時
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一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
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■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
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從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內(nèi)測量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測量可實現(xiàn)高分離粒徑分布的測量 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度 動態(tài)光散射法可實現(xiàn)微流變測量 通過多點測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性 標(biāo)準(zhǔn)流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量 溫度梯度功能允許蛋白質(zhì)的變性和相變溫度分析 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過濾器（可選）
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評估光源在紫外區(qū)域的輻射強度。 ? 通過光譜輻射測量高精度測量 亮度 ，支持 紫外、可見、紅外和廣泛的測量波長范圍，可實現(xiàn)光生物學(xué)**評估 這是一個有限的設(shè)備，可以測量紫外線的亮度。
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評估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評估 與溫度控制單元結(jié)合使用時，溫度評估 支持紫外線 LED 的光學(xué)特性評估，預(yù)計這些特性是**、凈化和樹脂固化。
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多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
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除了能夠進行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外，我們還通過安裝測量角度的自動可變機制，支持各種薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，還通過設(shè)置緩速板的自動解吸機制，提高了測量精度。
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我們的 MCPD 系列內(nèi)聯(lián)薄膜評估系統(tǒng)采用光學(xué)類型，可在非接觸式和無損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。 可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。 （折射率為1.5時） 測量原理為分光干涉方式，在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時，還支持多層厚度測量。 由于采用專有算法可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控，因此我們提出了*適合在線膠片監(jiān)視器的系統(tǒng)。
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我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內(nèi)聯(lián)的各種位置和應(yīng)用。 由于測量原理采用光譜干涉系統(tǒng)，因此在實現(xiàn)高測量可重復(fù)性的同時，還支持多層厚度測量。 采用專有算法，可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控。
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OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進行**反射率測量，可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
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特點 ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度 ■AS50的特點 連續(xù)測量多達 50 個樣本 即使在測量過程中也能添加樣品 樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品） 有機溶劑兼容（玻璃一次性電池） 樣品容量 *小 0.4ml
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該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。 測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外，在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
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除了使用傳統(tǒng)稀釋溶液和濃縮溶液測量Zeta電位和顆粒直徑外，該裝置還能夠測量分子量。 對應(yīng)于顆粒大小測量范圍（0.6nm 至 10μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。 測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外，在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
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[通過光散射評估物理性能在 ELSZneo 中進入一個新的階段] 除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外，該裝置還允許分子量測量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量，以提高顆粒大小分布的分離能力。 此外，還可以進行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新開發(fā)的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在高鹽濃度環(huán)境中（如鹽水）進行測量。 我們還推出了超微量電池單元，可在 3μL 下測量顆粒大小，為生命科學(xué)領(lǐng)域擴展了可能性。
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自1953年銷售以來，無論是在科研領(lǐng)域、生產(chǎn)現(xiàn)場，還是在品質(zhì)管理等各類需要測定粘度的場所，B-II型粘度計都是客戶的愛用機型，也是粘度計的代表機型。 特點 ◆ 擁有從低粘度至高粘度的寬廣測定量程 ◆ 接觸液體部分的材料是SUS304/303型不銹鋼 ◆ 適合測定非牛頓型液體的流動特征 ◆ 輝煌的銷售業(yè)績蓄積了豐富的專業(yè)知識和經(jīng)驗
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除了常規(guī)的 zeta 電位和粒度測量外，它是一種可以測量分子量的設(shè)備，可通過稀溶液至濃溶液進行測量。 支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量，通過實際測量電滲流來實現(xiàn)高精度的 zeta 電位測量。 此外，通過在0～90°C的寬溫度范圍內(nèi)進行自動溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚
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ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 此設(shè)備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell。 另，在0～90℃的大的溫度范圍內(nèi)，測量自動溫度的梯度空間，分析変性?相轉(zhuǎn)移溫度
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ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng) 此設(shè)備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
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ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng) 此設(shè)備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
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ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 此設(shè)備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
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Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
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Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀
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Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
