- 
        CEDAR思達
        
 - 
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 - SSD西西蒂
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 - TOKYO KEISO東...
 - takikawa 日本瀧...
 - Yamato雅馬拓
 - sanko三高
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        SENSEZ 靜雄傳感器
        
 - marktec碼科泰克
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        Osakavacuum大...
        
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 - ACE大流量計
 - KEM京都電子
 - imao今尾
 - AND艾安得
 - EYELA東京理化
 - ANRITSU安立計器
 - JIKCO 吉高
 - NiKon 尼康
 - DNK科研
 - Nordson諾信
 - PISCO匹斯克
 - NS精密科學
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        山里YAMARI
        
 - SND日新
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        Otsuka大塚電子
        
 - kotohira琴平工業
 - YAMABISHI山菱
 - OMRON歐姆龍
 - SAKURAI櫻井
 - UNILAM優尼光
 - ONO SOKKI小野測...
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        U-Technology...
        
 - ITON伊藤
 - chuhatsu中央發明...
 - TOADKK東亞
 - HOYA豪雅
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 - ThreeBond三鍵
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        HSK 平原精機 
        
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        SOMA相馬光學
        
 - iwata巖田
 - MUSASHI武藏
 - USHIO牛尾
 - ACTUNI阿庫圖
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 - navitar 納維塔
 - ASKER 高分子計器
 - KOSAKA Labor...
 - EMIC愛美克
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        OPTEX奧泰斯
        
 - NISSIN日進電子
 - TANDD 蒂和日
 - FUJI TERMINA...
 - TAKASAGO高砂
 - TAKIKAWA瀧川
 - SUGAWARA菅原
 - MACOME碼控美
 - 
        FURUKAWA古河
        
 - 
        TSUBOSAKA壺坂
        
 - mitutoyo 三豐
 - HAYASHI 林時計
 - HOZAN 寶山
 - FEI SEM電子顕微鏡
 - YUASA尤阿薩
 - SAKAGUCHI坂口電...
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 - 
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 - RKC 理化工業
 - MORITEX茉麗特
 - LIGHTING 光屋L...
 - TEITSU帝通
 - Excel聽音機
 - SERIC索萊克
 - 
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 - 
        TONCON拓豐
        
 - 
        SHINKO新光電子
        
 - Ono Sokki 小...
 - 樂彩
 - IIJIMA 飯島電子
 - THOMAS托馬斯
 - JIKCO吉高
 - 分散材料研究所
 - 
        NAVITAR納維塔
        
 - Cho-Onpa 超音波...
 - revox 萊寶克斯
 - Toki Sangyo ...
 - SUPERTOOL世霸
 - EIWA榮和
 - FUJITERMINAL...
 - TOYOX東洋克斯
 - AMAYA天谷制作所
 - 
        TSUBAKI NAKA...
        
 - TOPCON 拓普康
 - NIKKATO日陶
 - ITOH伊藤
 - NEWKON新光
 - SIBATA柴田
 - 
        TAISEI
        
 - 
        MITSUI三井電氣
        
 - 
        加熱器
        
 
日本SANKO山高 SWT-7100III膜厚計
日本SANKO山高 SWT-7100III膜厚計
產品特點;
SANKO山高SWT-7100III膜厚計
SWT系列探頭可互換。
◆ 兩用型 : FN-325
◆ 鐵材用 : Fe 系列
◆ 非鐵材 : NFe 系列
電磁式/渦電流式膜厚計
SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ 探頭可互換。簡易測量。
●可根據用途來選擇探頭。
●輕巧簡便。
●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。
●4個按鍵,操作簡單。
●可連接電腦進行數據的傳送。(7100Ⅲ)
用 途
●涂層/襯層/鍍金
●耐酸層等絕緣性皮膜
規 格
測量范圍 連接探頭不同而不同(另賣)
顯示方式 LCD畫面
檢量線校正 2點校正式
檢量線存儲 鐵·非鐵各一根
數據傳送 USB(7100Ⅲ)
電 源 單3電池(1.5V)×2
專用電源線(7100Ⅲ)
附帶自動關機功能
使用溫度 0~40C°(不結露)
尺寸重量 72(W)×30(H)×156(D)mm
約210g
附 屬 品 收納袋
7100Ⅲ:專用電源線
USB連接線、USB軟件
探 頭 根據測量金屬底材來選擇。
·鐵底材用(Fe)
·非鐵底材用(NFe)
·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)
(請參照專用探頭頁)
| 
						 探測頭型號  | 
					
						 FN-325  | 
				
| 
						 測量方式  | 
					
						 電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)  | 
				
| 
						 測量范圍  | 
					
						 鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm  | 
				
| 
						 表示分辨率  | 
					
						 1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通) 0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通) 0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通) 0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材) 0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)  | 
				
| 
						 測量精度 (平滑表面)  | 
					
						 0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通) 或者是指示值的±2%以內 101μm~3.00mm:±2%以內(鐵底材) 101μm~2.50mm:±2%以內(非鐵底材)  | 
				
| 
						 探測部  | 
					
						 1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g  | 
				
| 
						 選擇產品  | 
					
						 V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)  | 
				
| 
						 附屬品  | 
					
						 標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)  | 
				
| 
						 測量對象  | 
					
						 鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、 電鍍(電解鎳除外)等 非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等 一般較普遍的測量物用  | 
				
SWT-7000Ⅲ系列機型
| 
						 機型  | 
					
						 SWT-7000Ⅲ  | 
					
						 SWT-7100Ⅲ  | 
					
						 SWT-7200Ⅲ  | 
				|
| 
						 測量范圍  | 
					
						 連接的探測頭不同測量范圍也不同。  | 
				|||
| 
						 顯示方式  | 
					
						 液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈  | 
				|||
| 
						 檢量線校正  | 
					
						 2點校正方式(零校正、標準校正)  | 
				|||
| 
						 檢量線存儲  | 
					
						 鐵、非鐵各1根  | 
					
						 10根  | 
				||
| 
						 測量值存儲  | 
					
						 —  | 
					
						 20,000點  | 
				||
| 
						 數據傳送  | 
					
						 —  | 
					
						 USB  | 
					
						 USB  | 
				|
| 
						 統計功能  | 
					
						 —  | 
					
						 —  | 
					
						 內藏  | 
				|
| 
						 
 附加功能  | 
					
						 ●背光燈 ●測量模式的切換(普通/連續) ●檢量線、校正值的刪除 ●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) ●分辨率的切換 ●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)  | 
				|||
| 
						 電源  | 
					
						 單3電池 ×2  | 
					
						 單3電池 ×2 專用電源線  | 
				||
| 
						 使用溫度  | 
					
						 0~40C°(不結露)  | 
				|||
| 
						 機體尺寸·重量  | 
					
						 72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g  | 
				|||
| 
						 附屬品  | 
					
						 干電池、收納袋子  | 
					
						 干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)  | 
				||
| 
						 追加產品  | 
					
						 鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe) 鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)  | 
				|||
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)
| 
						 型號  | 
					
						 Fe-2.5/2.5L  | 
					
						 Fe-2.5LwA  | 
					
						 Fe-0.6Pem  | 
				
| 
						 測量方式  | 
					
						 電磁感應式  | 
				||
| 
						 測量范圍  | 
					
						 0~2.50mm  | 
					
						 0~600μm  | 
				|
| 
						 表示分解率  | 
					
						 1μm:0~999μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.50mm  | 
					
						 1μm:0~600μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 
  | 
				|
| 
						 測量精度 (平滑面)  | 
					
						 0~100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm~2.50mm:±2%  | 
					
						 0~100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm~600μm:±2%  | 
				|
| 
						 探測部  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 2.5:φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm  | 
					
						 1點定壓接觸式 測量部:約20×57mm 全長:約550~ 1.550mm (伸縮式)  | 
					
						 1點定壓接觸式 Φ5.6×94mm  | 
				
| 
						 選擇產品  | 
					
						 V形套頭/— (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)  | 
					
						 —  | 
					
						 —  | 
				
| 
						 附屬品  | 
					
						 標準校正片 試驗用零校正板 (鐵用)  | 
					
						 標準校正片 試驗用零校正板(鐵用) 收納袋子  | 
					
						 標準校正片 試驗用零校正板 (鐵用)  | 
				
| 
						 測量對象  | 
					
						 鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等  | 
					
						 鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。  | 
					
						 鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。  | 
				
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)
| 
						 型號  | 
					
						 Fe-10  | 
					
						 Fe-20  | 
				
| 
						 測量方式  | 
					
						 電磁感應式  | 
				|
| 
						 測量范圍  | 
					
						 0~10mm  | 
					
						 0~20mm  | 
				
| 
						 表示分解率  | 
					
						 
 1μm:0~999μm 0.01mm:1~10mm 
  | 
					
						 1μm:0~999μm 0.01mm:1~5mm 0.1mm:5~20mm  | 
				
| 
						 測量精度 (平滑面)  | 
					
						 0~3mm:±(5μm+顯示值的3%) 3.01mm:顯示值的±3%  | 
				|
| 
						 探測部  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm  | 
				
| 
						 選擇產品  | 
					
						 —  | 
					
						 —  | 
				
| 
						 附屬品  | 
					
						 標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)  | 
				|
| 
						 測量對象  | 
					
						 鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用  | 
					
						 鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用  | 
				
探測頭要根據需要購買。
SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)
| 
						 型號  | 
					
						 NFe-2.0/NFe-2.0L  | 
					
						 NFe-06  | 
					
						 NFe-8  | 
				
| 
						 測量方式  | 
					
						 渦電流式  | 
				||
| 
						 測量范圍  | 
					
						 0~2.00mm  | 
					
						 0~600μm  | 
					
						 0~8mm  | 
				
| 
						 
 表示分解率  | 
					
						 1μm:0~999μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.00mm  | 
					
						 1μm:0~600μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 
  | 
					
						 
 1μm:0~999μm 0.01mm:1~8mm  | 
				
| 
						 
 測量精度 (平滑表面)  | 
					
						 0~100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm~2.00mm: ±2%以內  | 
					
						 0~100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm~600μm: ±2%以內  | 
					
						 0~100μm:±1μm ±(±1μm+顯示值的±2%) 101μm~8mm: ±2%以內  | 
				
| 
						 
 探測部  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 2.0:φ13×47mm 2.0L:18×23×67mm  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm 
  | 
					
						 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm 
  | 
				
| 
						 選擇產品  | 
					
						 V形套頭/-  | 
					
						 -  | 
					
						 -  | 
				
| 
						 附屬品  | 
					
						 標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)  | 
				||
| 
						 測量對象  | 
					
						 鋁、銅等非磁性金屬底材 上的絕緣性皮膜等一般普 通測量物用。  | 
					
						 鋁、銅等非磁性金屬底 材上的絕緣性皮膜等 細小的圓棒、細管、小 物件等的高安定性用。  | 
					
						 鋁、銅等非磁性金屬 底材上的絕緣性皮膜等 比較厚的測量物用。  | 
				
探測頭要根據需要購買。
